- ArtikelnummerSN74BCT8244ANTG4
- MarkeTexas Instruments
- Lebenszyklusstatus Active
- RoHS RoHS Compliant
- BeschreibungIC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP
- KategorieLogik - Speziallogik
Auf Lager: 3.094
Kann sofort versenden
Preisgestaltung:
Preis erfragen oder RFQ anfordern
Technische Details
- Serie:74BCT
- Paket:Tube
- Teilestatus:Obsolete
- Logiktyp:Scan Test Device with Buffers
- Versorgungsspannung:4.5V ~ 5.5V
- Anzahl der Bits:8
- Betriebstemperatur:0°C ~ 70°C
- Befestigungsart:Through Hole
- Paket / Koffer:24-DIP (0.300", 7.62mm)
- Gerätepaket des Lieferanten:24-PDIP
Verwandte Produkte
IC REGIST BUFFER 25BIT DDR 96BGA
Auf Lager: 2.006
Preis erfragen
REGISTERED BUS TRANSCEIVER
Auf Lager: 14.664
- 1: $14.96000
SN74ABT18646 SCAN TEST DEVICES W
Auf Lager: 7.527
- 1: $14.03000
- 10: $12.89646
- 25: $12.36192
ERROR DETECTION & CORRECTION
Auf Lager: 6.319
- 1: $32.07000
IC DUAL COMPL PAIR W/INV 14SOIC
Auf Lager: 183
- 1: $0.99000
- 250: $0.58516
- 500: $0.49800
IC REGIST BUFF 25BIT DDR2 96-BGA
Auf Lager: 2.750
Preis erfragen
ADDER/SUBTRACTOR, TTL
Auf Lager: 3.731
- 1: $1.01000
IC BINARY FULL ADDER 16SOIC
Auf Lager: 2.402
Preis erfragen
IC RCVR/DVR ECL DIFF 5V 8SOIC
Auf Lager: 5.123.912
- 1: $7.57000
- 98: $6.55862
- 196: $5.73113
ERROR DETECTION & CORRECTION
Auf Lager: 1.080
- 1: $28.33000
In den Warenkorb gelegt!
Dieser Artikel wurde Ihrem Warenkorb hinzugefügt.