- ArtikelnummerSN74BCT8240ADWRE4
- MarkeTexas Instruments
- Lebenszyklusstatus Active
- RoHS RoHS Compliant
- BeschreibungIC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC
- KategorieLogik - Speziallogik
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Preisgestaltung:
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Technische Details
- Serie:74BCT
- Paket:Tape & Reel (TR)
- Teilestatus:Obsolete
- Logiktyp:Scan Test Device with Inverting Buffers
- Versorgungsspannung:4.5V ~ 5.5V
- Anzahl der Bits:8
- Betriebstemperatur:0°C ~ 70°C
- Befestigungsart:Surface Mount
- Paket / Koffer:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
- Gerätepaket des Lieferanten:24-SOIC
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