- ArtikelnummerSN74ABT8245DWR
- MarkeTexas Instruments
- Lebenszyklusstatus Active
- RoHS RoHS Compliant
- BeschreibungIC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
- KategorieLogik - Speziallogik
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Preisgestaltung:
- 1$3.4996
- 2.000$3.4996
Technische Details
- Serie:74ABT
- Paket:Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)
- Teilestatus:Active
- Logiktyp:Scan Test Device with Bus Transceivers
- Versorgungsspannung:4.5V ~ 5.5V
- Anzahl der Bits:8
- Betriebstemperatur:-40°C ~ 85°C
- Befestigungsart:Surface Mount
- Paket / Koffer:24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
- Gerätepaket des Lieferanten:24-SOIC
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