- ArtikelnummerSN74ABT18640DGGR
- MarkeTexas Instruments
- Lebenszyklusstatus Active
- RoHS RoHS Compliant
- BeschreibungIC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
- KategorieLogik - Speziallogik
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Preisgestaltung:
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Technische Details
- Serie:74ABT
- Paket:Tape & Reel (TR)Cut Tape (CT)
- Teilestatus:Obsolete
- Logiktyp:Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
- Versorgungsspannung:4.5V ~ 5.5V
- Anzahl der Bits:18
- Betriebstemperatur:-40°C ~ 85°C
- Befestigungsart:Surface Mount
- Paket / Koffer:56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
- Gerätepaket des Lieferanten:56-TSSOP
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